| 高周波関係解析 |
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| ●モジュール内のどの部品が異常であるのかを切り分けたい |
| ●高周波特性の異常が集積回路中のどの部分で発生しているのかを明らかにしたい |
| ●集積回路中の特定の単体素子のDC特性あるいはAC特性を測定したい |
| ●S-パラメータを測定したい |
| ●振幅が数十ｍVから１００ｍV程度の低電圧動作波形を非接触で測定したい |
| ●高周波特性の評価および解析に適したTEGを設計したい |
| ●低ノイズなど、高周波に適した治具を設計したい |
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| ・デバイスの高周波特性の測定 |
| ・回路内部の動作波形の接触測定あるいは非接触測定 |
| ・TEGの測定 |
| ・TEGおよび治具の設計支援 |
| 等のサービスをご提供致します |
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