| 信頼性評価・解析 |
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●新規に開発したデバイスやモジュールに対する信頼性試験の
項目・条件をどのように決めたらよいのか分からない |
| ●新規に採用予定のデバイスやモジュールの信頼性リスクを事前に評価しておきたい |
| ●抜き取り検査としてデバイスのX線透視や断面観察を行いたい |
| ●信頼性試験で故障したサンプルの故障原因を明らかにしたい |
| ●市場故障のデバイスについて、一過性の故障か劣化性の故障かを明らかにしたい |
| ●特別採用が可能かどうかを判断するためのデータを収集したい |
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| ・デバイスやモジュールに対してどのような信頼性試験を行ったらよいのかのご提案 |
| ・解析ネットワークを利用した信頼性試験自体の実施 |
| ・信頼性試験で故障したサンプルの故障解析の実施 |
| ・特性が正常な新規採用予定デバイスのX線透視や平面・断面観察などによる信頼性リスクの評価 |
| ・信頼性試験結果に対するコンサルティング |
| 等のサービスをご提供致します |
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